鋰離子電池、固態(tài)電池、鈉離子電池……這些名字你一定不陌生。但你可能不知道,在每一塊高性能電池的背后,都有一臺(tái)神秘的儀器在默默工作。它能“看見"納米尺度的形貌變化,能“摸到"材料表面的軟硬,甚至能“畫出"電流的分布圖。
今天,我們就來聊聊,AFM究竟如何幫助科學(xué)家破解電池內(nèi)部的“黑箱",推動(dòng)下一代高比能、高安全電池的發(fā)展。

電池的宏觀性能(續(xù)航、循環(huán)次數(shù)),取決于電極顆粒、界面穩(wěn)定性等微觀結(jié)構(gòu)。AFM的三大核心優(yōu)勢(shì),精準(zhǔn)匹配電池表征需求:
納米級(jí)分辨率:能看清SEI膜(電池界面關(guān)鍵保護(hù)層)、鋰枝晶、電極顆粒的細(xì)微形貌,捕捉肉眼和普通顯微鏡看不到的細(xì)節(jié);
多物理場(chǎng)表征:一次掃描就能同時(shí)獲取形貌、力學(xué)、電學(xué)等多維度數(shù)據(jù),不用反復(fù)取樣,效率翻倍;
原位兼容:可在電解液、恒電位等真實(shí)電池工況下觀測(cè),還原電池充放電時(shí)的動(dòng)態(tài)變化,避免“離線觀測(cè)"的誤差。
AFM的應(yīng)用貫穿電池研發(fā)、生產(chǎn)、失效分析全流程,尤其在鋰電池、固態(tài)電池領(lǐng)域,每一個(gè)核心環(huán)節(jié)都離不開它的“助攻",我們分場(chǎng)景拆解,通俗易懂不燒腦。
電極(正極+負(fù)極)是電池的“能量核心",其微觀狀態(tài)直接影響電池容量和循環(huán)壽命。AFM主要排查3個(gè)關(guān)鍵問題:

ACS Appl. Mater. Interfaces 2024, 16, 43512-43525;DOI: 10.1021/acsami.4c06693
SEI膜是電池電極表面的一層“保護(hù)衣",厚度僅5-20 nm,卻直接決定電池的庫侖效率、循環(huán)壽命和安全性——SEI膜不穩(wěn)定,電池就容易衰減、鼓包,甚至出現(xiàn)安全風(fēng)險(xiǎn)。
在原位工況下,AFM能實(shí)時(shí)看到SEI膜的成核、生長(zhǎng)、覆蓋全過程,看清它在不同電解液、不同電位下的變化;還能測(cè)量SEI膜的厚度、均勻性和力學(xué)強(qiáng)度,判斷它是否“結(jié)實(shí)耐用"。比如,高濃度電解液能形成更致密、更薄的SEI膜,破解電池續(xù)航衰減的密碼,先從AFM觀測(cè)SEI膜開始。

J. Phys. Chem. C 2024, 128, 18182-18190;DOI:10.1021/acs.jpcc.4c04758
鋰枝晶是電池安全的“頭號(hào)敵人"——它像一根細(xì)針,充電時(shí)會(huì)不斷生長(zhǎng),一旦刺穿隔膜,就會(huì)導(dǎo)致電池內(nèi)短路、起火甚至爆炸。
AFM能在原位環(huán)境下,清晰捕捉鋰枝晶的生長(zhǎng)過程:它是針狀、苔蘚狀還是塊狀?生長(zhǎng)速度有多快?哪些因素(如電流密度、溫度)會(huì)加速它的生長(zhǎng)?
同時(shí),AFM還能觀測(cè)鋰枝晶與隔膜的相互作用,分析隔膜的機(jī)械強(qiáng)度是否能抵御枝晶穿刺,為高安全電池的隔膜選型提供依據(jù)。
固態(tài)電池是未來電池的重要方向,但固-固界面的接觸問題、阻抗問題,——電極與固態(tài)電解質(zhì)接觸不緊密,就會(huì)導(dǎo)致電池性能下降。AFM能精準(zhǔn)表征固-固界面的微觀狀態(tài):界面是否有空隙?接觸緊密程度如何?循環(huán)過程中是否會(huì)產(chǎn)生裂紋、應(yīng)力集中?
此外,AFM還能測(cè)試固態(tài)電解質(zhì)的晶粒大小、晶界缺陷和力學(xué)可靠性,為固態(tài)電池的電解質(zhì)研發(fā)、界面優(yōu)化提供核心數(shù)據(jù)支撐。
針對(duì)電池行業(yè)的不同需求,AFM有多種技術(shù)模式,不用死記硬背,記住這5種常用的即可:
PeakForce Tapping(PFT):低損傷,一次掃描就能同時(shí)獲得形貌和力學(xué)數(shù)據(jù)(如模量、硬度),適合電極、SEI膜表征;
Conductive AFM(CAFM):專注納米電導(dǎo)率測(cè)試,定位電極“死區(qū)"、分析界面接觸電阻;
Electrochemical AFM(EC-AFM):原位液相+恒電位/恒流,模擬真實(shí)電池工況,觀測(cè)SEI膜、鋰枝晶動(dòng)態(tài);
Lateral Force Microscopy(LFM):測(cè)試納米摩擦、粘附力,分析電極內(nèi)部滑移、電解液潤(rùn)滑作用;
AFM-Raman/AFM-IR:多模態(tài)聯(lián)用,同時(shí)獲得形貌、成分、力學(xué)數(shù)據(jù),精準(zhǔn)關(guān)聯(lián)“結(jié)構(gòu)-性能"關(guān)系。

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