產品介紹

儀器特點

● 超高精度測角系統  : θ-θ 立式結構 ，最小步進角0 .0001° ,   位置重現性≤0 .0005° ,   數據精準可靠。

● 雙探測器靈活選配  : NaI 閃爍計數器 ：低噪≤1c ps ，線性 500kc ps ，常規分析高性價比288×288 半導體陣列： 單點計數率 2 . 6×10? /s ，快速二維采集。

●  高穩定 X 射線源   : 2 . 6kW 大功率 ，40kV/40mA 可24 小時連續工作 ，整機穩定度≤0 . 5%。

●  全流程安全防護   : 輻射劑量0 . 3μSv / 小時 ， 防護門聯鎖 、光閘自動控制 ，合規更安心。

● 豐富擴展能力    : 支持自動進樣器 、三軸 / 五軸樣品臺 、薄膜 / 纖維附件 、多靶材 X 射線管。

應用領域

●  材料科學：晶體結構、相組成、晶粒尺寸、新材料研發

●  地質勘探：礦物鑒定、巖石成分定量分析

●  生物醫藥：藥物晶型、生物大分子結構解析

●  工業質控：陶瓷 / 金屬 / 催化劑質量檢測、工藝優化

●  環境與法醫：污染物溯源、微量物證鑒定

X射線源Cu靶，2.6kW管電壓:15-50kV(步長1kV)管電流:2-40mA(步長1mA)24小時連續工作

發生器功率2kW

測角儀θ-θ立式垂直掃描半徑:180mm20范圍:-110°~161°最小步進角:0.0001*位置重現性:≤0.0005°

掃描速度:1/8°~16°/min

探測器Nal閃爍計數器(標配)線性計數率500kcps本底噪聲:≤1cps:288x288半導體陣列探測器(選配)

有效面積:20x20mm單點計數率:26x10?cps像素尺寸:70x70um

控制軟件θ/2θ校讀、步進掃描、計數率顯?等

綜合穩定度≤0.5%

輻射泄漏≤0.3uSv/h(扣除天然本底)

安全防護設備門連鎖、光閘自動控制、散射線屏蔽

標配附件發散/接收/防散射/索拉狹縫(2套)Ni濾片(Cu靶)石墨單色器(與閃爍計數器專配)

可選附件10位自動進樣器玻璃體/陶瓷X射線管(Fe、Co、Mn等)三軸/五軸樣品臺GID平行光薄膜附件纖維附件